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CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR

2022-06-27 11:27:13 

驅(qū)動(dòng)器級(jí)別依賴[DLD]或驅(qū)動(dòng)器級(jí)別靈敏度[DLS]描述了這種現(xiàn)象由于固有的小材料非線性，所有晶體諧振器都依賴于一定的驅(qū)動(dòng)電平在石英。DLD是防止晶體開始振蕩的一個(gè)原因。在低駕駛水平下，一些石英諧振器的串聯(lián)電阻可能會(huì)大幅增加，這使它們無法工作開始振蕩。一些工程師將其描述為“沉睡的水晶”。電路將啟動(dòng)有時(shí)并不是在其他時(shí)候開始，而是可以用一個(gè)范圍探針、一根手指的觸摸來興奮或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器。實(shí)施DLD測試可以保證ESR和頻率的變化在最大限度內(nèi)，從而確保電源的初始啟動(dòng)。

416F37035ATR CTS晶振 416 MHz Crystal 37MHz
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在晶體的環(huán)境規(guī)格中，電氣性能規(guī)格將決定如果能正確運(yùn)行，但環(huán)境規(guī)范保證了可靠性晶體。識(shí)別應(yīng)用程序環(huán)境并適當(dāng)?shù)刂付ㄐ枨笫呛苤匾?。mil - std - 202定義了適用的環(huán)境試驗(yàn)晶體。右邊是主要的區(qū)域evnviromental測試

機(jī)械沖擊試驗(yàn)決定了設(shè)計(jì)跌落時(shí)的強(qiáng)度。一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)軍用線規(guī)格為100g。如果應(yīng)用程序環(huán)境是良性的，并且在裝配過程中使用正確的操作，這個(gè)規(guī)格是足夠的。但在很多情況下，部分在組裝過程中不小心掉了下來，我們希望水晶仍能正常工作。放棄一個(gè)從桌面高度的水晶可以導(dǎo)致超過1000克。CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR

416F37411CTR CTS晶振 416 MHz Crystal 37.4MHz
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CTS晶振公司的設(shè)計(jì)范圍從500克到超過10000 g的。通常伴隨g級(jí)的持續(xù)時(shí)間[時(shí)間]來表征脈沖。低沖擊水平下的持續(xù)時(shí)間可以很長[20毫秒]。更高的沖擊水平[5000克]會(huì)有更短的持續(xù)時(shí)間(1/4ms)。有些設(shè)計(jì)是專門的，有時(shí)會(huì)影響電氣性能。有關(guān)特定晶體設(shè)計(jì)性能的信息，請(qǐng)聯(lián)系CTS。此外,CTS可以建議正確的處理程序，以避免損壞晶體。

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振動(dòng)測試晶體在振動(dòng)條件下工作的能力。如果是散熱風(fēng)扇在機(jī)架中運(yùn)行，它可能會(huì)引起晶體振動(dòng)。如果一個(gè)引擎靠近晶體，它就會(huì)有震動(dòng)的感覺。振動(dòng)會(huì)使石英晶片開裂或破裂，從而損壞晶體。適當(dāng)?shù)膬?nèi)部安裝結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)需要通過更嚴(yán)格的振動(dòng)要求。軍事基線規(guī)范的振動(dòng)是10g的應(yīng)用超過10到500Hz。更硬的規(guī)格晶體在更高的頻率[高達(dá)200Hz]和/或更高的g水平。這也很重要將晶體安裝在印刷電路板上，以減少晶體的Q-ing和董事會(huì)。Q-ing是當(dāng)振動(dòng)由于與板或晶體的自然共振而放大時(shí)。

416F374X2AKR CTS晶振 416 MHz Crystal 37.4MHz
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當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí)，g能級(jí)顯著上升，通常會(huì)損壞晶體。如果懷疑有這些類型的問題，請(qǐng)咨詢我們以獲得更多信息。

抗腐蝕是晶體抗生銹的能力。鹽霧測試證明了這種金屬或者陶瓷包裝不會(huì)生銹，包裝不會(huì)隨著時(shí)間而損壞。在制造中使用的水沖洗系統(tǒng)，如果金屬部分不生銹，可能會(huì)在包裝中滋生銹蝕鍍。對(duì)于電阻焊接應(yīng)用，CTS使用鎳合金覆蓋或鍍鎳科瓦蓋確保CTS零件不會(huì)生銹。

416F38013ATR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
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416F38023CSR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38023CTR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
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416F38025ASR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025ATR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025CAR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025CDR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025CKR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025CLR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
濕度和濕氣試驗(yàn)不僅是對(duì)防銹性能的測試，也是對(duì)透氣性的測試密封包。如果水分被包內(nèi)，性能差或無輸出將結(jié)果。良好的干燥氣氛對(duì)于晶體的長期優(yōu)良性能是必要的。

416F38025CSR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
416F38025CTR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
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熱沖擊是一種測試封裝體和SMD石英晶體在快速溫度變化下相容性的方法。如果不相容，晶體的性能將發(fā)生劇烈的變化包可能泄漏。通常，在熱沖擊后進(jìn)行泄漏測試。對(duì)于晶體，標(biāo)準(zhǔn)測試是在空氣對(duì)空氣的環(huán)境中進(jìn)行的，使用溫度低至-65°C至高+ 125°C。液體到液體的測試通常不用于晶體。CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR


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