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CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長(zhǎng)期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR

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驅(qū)動(dòng)器級(jí)別依賴[DLD]或驅(qū)動(dòng)器級(jí)別靈敏度[DLS]描述了這種現(xiàn)象由于固有的小材料非線性,所有晶體諧振器都依賴于一定的驅(qū)動(dòng)電平在石英。DLD是防止晶體開(kāi)始振蕩的一個(gè)原因。在低駕駛水平下,一些石英諧振器的串聯(lián)電阻可能會(huì)大幅增加,這使它們無(wú)法工作開(kāi)始振蕩。一些工程師將其描述為“沉睡的水晶”。電路將啟動(dòng)有時(shí)并不是在其他時(shí)候開(kāi)始,而是可以用一個(gè)范圍探針、一根手指的觸摸來(lái)興奮或多個(gè)驅(qū)動(dòng)器。實(shí)施DLD測(cè)試可以保證ESR和頻率的變化在最大限度內(nèi),從而確保電源的初始啟動(dòng)。

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在晶體的環(huán)境規(guī)格中,電氣性能規(guī)格將決定如果能正確運(yùn)行,但環(huán)境規(guī)范保證了可靠性晶體。識(shí)別應(yīng)用程序環(huán)境并適當(dāng)?shù)刂付ㄐ枨笫呛苤匾?。mil - std - 202定義了適用的環(huán)境試驗(yàn)晶體。右邊是主要的區(qū)域evnviromental測(cè)試

機(jī)械沖擊試驗(yàn)決定了設(shè)計(jì)跌落時(shí)的強(qiáng)度。一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)軍用線規(guī)格為100g。如果應(yīng)用程序環(huán)境是良性的,并且在裝配過(guò)程中使用正確的操作,這個(gè)規(guī)格是足夠的。但在很多情況下,部分在組裝過(guò)程中不小心掉了下來(lái),我們希望水晶仍能正常工作。放棄一個(gè)從桌面高度的水晶可以導(dǎo)致超過(guò)1000克。CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長(zhǎng)期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR

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CTS晶振公司的設(shè)計(jì)范圍從500克到超過(guò)10000 g的。通常伴隨g級(jí)的持續(xù)時(shí)間[時(shí)間]來(lái)表征脈沖。低沖擊水平下的持續(xù)時(shí)間可以很長(zhǎng)[20毫秒]。更高的沖擊水平[5000克]會(huì)有更短的持續(xù)時(shí)間(1/4ms)。有些設(shè)計(jì)是專(zhuān)門(mén)的,有時(shí)會(huì)影響電氣性能。有關(guān)特定晶體設(shè)計(jì)性能的信息,請(qǐng)聯(lián)系CTS。此外,CTS可以建議正確的處理程序,以避免損壞晶體。

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振動(dòng)測(cè)試晶體在振動(dòng)條件下工作的能力。如果是散熱風(fēng)扇在機(jī)架中運(yùn)行,它可能會(huì)引起晶體振動(dòng)。如果一個(gè)引擎靠近晶體,它就會(huì)有震動(dòng)的感覺(jué)。振動(dòng)會(huì)使石英晶片開(kāi)裂或破裂,從而損壞晶體。適當(dāng)?shù)膬?nèi)部安裝結(jié)構(gòu)的設(shè)計(jì)需要通過(guò)更嚴(yán)格的振動(dòng)要求。軍事基線規(guī)范的振動(dòng)是10g的應(yīng)用超過(guò)10到500Hz。更硬的規(guī)格晶體在更高的頻率[高達(dá)200Hz]和/或更高的g水平。這也很重要將晶體安裝在印刷電路板上,以減少晶體的Q-ing和董事會(huì)。Q-ing是當(dāng)振動(dòng)由于與板或晶體的自然共振而放大時(shí)。

416F374X2AKR CTS晶振 416 MHz Crystal 37.4MHz
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當(dāng)這種情況發(fā)生時(shí),g能級(jí)顯著上升,通常會(huì)損壞晶體。如果懷疑有這些類(lèi)型的問(wèn)題,請(qǐng)咨詢我們以獲得更多信息。

抗腐蝕是晶體抗生銹的能力。鹽霧測(cè)試證明了這種金屬或者陶瓷包裝不會(huì)生銹,包裝不會(huì)隨著時(shí)間而損壞。在制造中使用的水沖洗系統(tǒng),如果金屬部分不生銹,可能會(huì)在包裝中滋生銹蝕鍍。對(duì)于電阻焊接應(yīng)用,CTS使用鎳合金覆蓋或鍍鎳科瓦蓋確保CTS零件不會(huì)生銹。

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濕度和濕氣試驗(yàn)不僅是對(duì)防銹性能的測(cè)試,也是對(duì)透氣性的測(cè)試密封包。如果水分被包內(nèi),性能差或無(wú)輸出將結(jié)果。良好的干燥氣氛對(duì)于晶體的長(zhǎng)期優(yōu)良性能是必要的。

416F38025CSR CTS晶振 416 MHz Crystal 38MHz
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熱沖擊是一種測(cè)試封裝體和SMD石英晶體在快速溫度變化下相容性的方法。如果不相容,晶體的性能將發(fā)生劇烈的變化包可能泄漏。通常,在熱沖擊后進(jìn)行泄漏測(cè)試。對(duì)于晶體,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試是在空氣對(duì)空氣的環(huán)境中進(jìn)行的,使用溫度低至-65°C至高+ 125°C。液體到液體的測(cè)試通常不用于晶體。CTS公司發(fā)現(xiàn)干燥氣氛對(duì)于晶體的長(zhǎng)期優(yōu)良性能非常必要的416F38033CSR


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