IQD晶振推出了新系列的LVPECL(IQXO-623/IQXO-624)和LVDS(IQXO-618)輸出時鐘振蕩器,相位抖動小于1psrms(超過12kHz至20MHz),無論指定哪種輸出.這些新型號采用密封的小體積尺寸3.2x2.5x1.1mm，陶瓷6焊盤封裝,頻率范圍為13.5MHz至156.25MHz.IQXO-618,IQXO-623和IQXO-624主要用于以太網(wǎng)(10G/40G),光纖通道和SONET/SDH等應(yīng)用.
新型石英晶體振蕩器提供2.5V或3.3V電壓,在-40℃至85℃的工作溫度范圍內(nèi)具有±30ppm的頻率穩(wěn)定性.IQXO-618,IQXO-623和IQXO-624具有最大電流消耗50mA,上升和下降時間最長1ms,并在引腳1上包含一個啟用/禁用功能作為標(biāo)準(zhǔn).

主要用于電信的LVPECL和LVDS晶振IQXO-623/IQXO-624/IQXO-618

石英晶振環(huán)境參數(shù)：
儲存溫度范圍:-55至125℃
跌落試驗(JIS-C0044):在試驗前測量樣品的頻率.然后,它以自由落體的形式從100厘米分鐘的高度掉落到厚度為30毫米分鐘的堅硬木板上.
振動(MIL-STD-883F:2007.3):測試前測量樣品的頻率.在X,Y和Z軸上進行振動測試.頻率范圍:20~2000赫茲,峰間振幅:1.52毫米,峰值加速度:20G,掃描時間:20分鐘/軸,平均總測試時間:4小時.
低溫暴露(JIS-C0020):測試前測量樣品的頻率.將設(shè)備暴露在-40°C±3°C下168±6小時.室溫放置1~2小時后測量電氣性能.
老化試驗(JIS-C0021):在試驗前測量樣品的頻率.將器件暴露在+125°C±3°C下720±48小時.室溫放置1~2小時后測量電氣性能.
高溫和高濕度(MIL-STD-883F:1004.7):測試前測量樣品的頻率.將設(shè)備暴露在+85°C±5°C和85±5%濕度下168±6小時.室溫放置1~2小時后測量電氣性能.
溫度循環(huán)試驗(MIL-STD-883F:1010.8):在試驗前測量樣品的頻率.將設(shè)備暴露于100個周期:
低溫:-55°C±3°C持續(xù)15±3分鐘升溫至高溫:2-3分鐘
高溫:+125°C±3°C持續(xù)15±3分鐘,緩降至低溫:2-3分鐘
室溫放置1~2小時后測量電氣性能

主要用于電信的LVPECL和LVDS晶振IQXO-623/IQXO-624/IQXO-618

技術(shù)合作伙伴：
IQD是Statek Corporation高度專業(yè)化的基于光刻工藝的石英晶體，晶體振蕩器和傳感器的全球授權(quán)分銷商，提供非常高的環(huán)境性能，特別適用于軍事，航空和“井下”應(yīng)用。
作為Rakon的前任部門，IQD與全球渠道合作伙伴保持著密切的合作伙伴關(guān)系，為我們自己的產(chǎn)品系列提供Rakon的專業(yè)高性能振蕩器。Rakon世界領(lǐng)先的定時解決方案特別拉康新適用于電信和網(wǎng)絡(luò)基礎(chǔ)設(shè)施，GPS定位和衛(wèi)星應(yīng)用中的同步連接。

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